Article Dans Une Revue
Journal of Non-Crystalline Solids
Année : 2016
Laurent Jonchère : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://univ-rennes.hal.science/hal-01319062
Soumis le : vendredi 20 mai 2016-11:57:25
Dernière modification le : mardi 6 février 2024-14:30:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01319062 , version 1
- DOI : 10.1016/j.jnoncrysol.2016.04.017
Citer
E. Baudet, C. Cardinaud, A. Girard, E. Rinnert, Karine Michel, et al.. Structural analysis of RF sputtered Ge-Sb-Se thin films by Raman and X-ray photoelectron spectroscopies. Journal of Non-Crystalline Solids, 2016, 444, pp.64--72. ⟨10.1016/j.jnoncrysol.2016.04.017⟩. ⟨hal-01319062⟩
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