Structural analysis of RF sputtered Ge-Sb-Se thin films by Raman and X-ray photoelectron spectroscopies - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Non-Crystalline Solids Année : 2016

Dates et versions

hal-01319062 , version 1 (20-05-2016)

Identifiants

Citer

E. Baudet, C. Cardinaud, A. Girard, E. Rinnert, Karine Michel, et al.. Structural analysis of RF sputtered Ge-Sb-Se thin films by Raman and X-ray photoelectron spectroscopies. Journal of Non-Crystalline Solids, 2016, 444, pp.64--72. ⟨10.1016/j.jnoncrysol.2016.04.017⟩. ⟨hal-01319062⟩
93 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More