Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Dauverchain Eric : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01913792
Soumis le : mardi 6 novembre 2018-15:29:39
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:23
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01913792 , version 1
Citer
V. Smet, F. Forest, J.-J. Huselstein, Frédéric Richardeau, M. Berkani, et al.. Modes de vieillissement et de défaillance de modules IGBT sous cyclage actif à haute température. Congrès national EPF2010, 2010, Saint Nazaire, France. ⟨hal-01913792⟩
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