Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM): Local probe of electronic properties at buried interfaces - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM): Local probe of electronic properties at buried interfaces

Sophie Guézo
Pascal Turban
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 896
  • IdHAL : pturban
Francine Solal
Sergio Di Matteo
Bruno Lépine
Gabriel Delhaye
Sylvain Tricot
Philippe Schieffer
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00935580 , version 1 (23-01-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00935580 , version 1

Citer

Sophie Guézo, Pascal Turban, Francine Solal, Soraya Ababou-Girard, Sergio Di Matteo, et al.. Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM): Local probe of electronic properties at buried interfaces. International Conference on Nanoscience and Technology (ICN+T 2012), Jul 2012, Paris, France. ⟨hal-00935580⟩
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