Absolute measurement of the nonlinear refractive indices of reference materials
Mathieu Chauvet
(1)
,
Gil Fanjoux
(1)
,
Kien Phan Huy
(1)
,
Virginie Nazabal
(2)
,
Frédéric Charpentier
(2)
,
Thierry Billeton
(3)
,
Michel Cathelinaud
,
Simon-Pierre Gorza
(4)
,
Georges Boudebs
(5)
,
Kamil Fedus
(6)
1
FEMTO-ST -
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
2 ISCR - Institut des Sciences Chimiques de Rennes
3 LPL - Laboratoire de Physique des Lasers
4 ULB - Université libre de Bruxelles
5 LPHIA - Laboratoire de Photonique d'Angers
6 POMA - Propriétés Optiques des Matériaux et Applications
2 ISCR - Institut des Sciences Chimiques de Rennes
3 LPL - Laboratoire de Physique des Lasers
4 ULB - Université libre de Bruxelles
5 LPHIA - Laboratoire de Photonique d'Angers
6 POMA - Propriétés Optiques des Matériaux et Applications
Gil Fanjoux
- Fonction : Auteur
- PersonId : 848066
- IdHAL : gil-fanjoux
- ORCID : 0000-0001-7941-5265
Kien Phan Huy
- Fonction : Auteur
- PersonId : 748650
- IdHAL : kien-phan-huy
- ORCID : 0000-0003-2433-5203
- IdRef : 102203407
Virginie Nazabal
- Fonction : Auteur
- PersonId : 177367
- IdHAL : virginie-nazabal
- ORCID : 0000-0002-0113-3935
- IdRef : 119128063
Michel Cathelinaud
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1243910
- IdHAL : michel-cathelinaud
- ORCID : 0000-0003-4117-5168
Georges Boudebs
- Fonction : Auteur
- PersonId : 945416
- ORCID : 0000-0002-0269-4689
- IdRef : 109910990