Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
ROCHDI EL ABDI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://univ-rennes.hal.science/hal-02385209
Soumis le : jeudi 28 novembre 2019-16:43:13
Dernière modification le : mercredi 10 mai 2023-08:39:33
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02385209 , version 1
Citer
Sofiane El Mossouess, Elsa Yee Kin Choi, Noureddine Benjemaa, Rochdi El Abdi, Laurent Doublet, et al.. Statistical Analysis of Voltage from Constriction to Micro-Arc Values During Aging by Fretting. 61th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2015, San-Diego, United States. pp.304-308. ⟨hal-02385209⟩
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