Article Dans Une Revue
Semiconductor Science and Technology
Année : 2018
UMI3463 LN2 : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01914356
Soumis le : mardi 6 novembre 2018-19:28:18
Dernière modification le : lundi 12 février 2024-15:20:18
Citer
M. Merhej, T. Honegger, B Bassani, B Baron, D. Peyrade, et al.. Direct measurement of AC electrokinetics properties and capture frequencies of silicon and silicon–germanium nanowires. Semiconductor Science and Technology, 2018, 33 (1), ⟨10.1088/1361-6641/aa99fd⟩. ⟨hal-01914356⟩
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