2D Numerical Analysis of Metal/Insulator/Thin Film Silicon Systems for TFT's Applications: Investigation of Active Layer Properties on Quasi-Static Capacitance - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Sensors & Transducers. Année : 2014

2D Numerical Analysis of Metal/Insulator/Thin Film Silicon Systems for TFT's Applications: Investigation of Active Layer Properties on Quasi-Static Capacitance

Hadjira Tayoub
  • Fonction : Auteur
Asmaa Bensmain
  • Fonction : Auteur
B. Zebentout
  • Fonction : Auteur
Fatima Maachou
  • Fonction : Auteur
Zineb Benamara
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01121058 , version 1 (27-02-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01121058 , version 1

Citer

Hadjira Tayoub, Asmaa Bensmain, B. Zebentout, Fatima Maachou, Zineb Benamara, et al.. 2D Numerical Analysis of Metal/Insulator/Thin Film Silicon Systems for TFT's Applications: Investigation of Active Layer Properties on Quasi-Static Capacitance. Sensors & Transducers., 2014, 27, pp.347-353. ⟨hal-01121058⟩
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