Low cristalline defect density in GaP/Si nanolayers - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Low cristalline defect density in GaP/Si nanolayers

Thanh Tra Nguyen
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 931660

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01115024 , version 1 (10-02-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01115024 , version 1

Citer

Yanping Wang, Julien Stodolna, Thanh Tra Nguyen, Antoine Létoublon, Jithesh Kuyyalil, et al.. Low cristalline defect density in GaP/Si nanolayers. European Materials Research Society 2014 Sptring Meeting (E-MRS 2014), May 2014, Lille, France. ⟨hal-01115024⟩
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