Specific Tests of Thin Film Devices for Large Area Electronics - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Specific Tests of Thin Film Devices for Large Area Electronics

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00936262 , version 1 (24-01-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00936262 , version 1

Citer

Olivier Bonnaud, Tayeb Mohammed-Brahim. Specific Tests of Thin Film Devices for Large Area Electronics. Proc. of 3rd IEEE Latin-American Test Workshop, Feb 2002, Montevideo, Uruguay. pp.194-198. ⟨hal-00936262⟩
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