Degradation in polysilicon thin film transistors related to the quality of the polysilicon material - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2003

Degradation in polysilicon thin film transistors related to the quality of the polysilicon material

H. Toutah
  • Fonction : Auteur
B. Tala-Ighil
  • Fonction : Auteur
Jean-François Llibre
B. Boudard
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00914213 , version 1 (05-12-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00914213 , version 1

Citer

H. Toutah, B. Tala-Ighil, Jean-François Llibre, B. Boudard, Tayeb Mohammed-Brahim, et al.. Degradation in polysilicon thin film transistors related to the quality of the polysilicon material. Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1531-1535. ⟨hal-00914213⟩
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