Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2003
Katell Kervella : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00914213
Soumis le : jeudi 5 décembre 2013-09:45:45
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00914213 , version 1
Citer
H. Toutah, B. Tala-Ighil, Jean-François Llibre, B. Boudard, Tayeb Mohammed-Brahim, et al.. Degradation in polysilicon thin film transistors related to the quality of the polysilicon material. Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1531-1535. ⟨hal-00914213⟩
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