Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM): local probe of electronic properties at buried interfaces - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM): local probe of electronic properties at buried interfaces

Sophie Guézo
Alexandra Junay
Francine Solal
Gabriel Delhaye
Sylvain Tricot
Pascal Turban
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 896
  • IdHAL : pturban
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00880013 , version 1 (05-11-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00880013 , version 1

Citer

Sophie Guézo, Alexandra Junay, Francine Solal, Soraya Ababou-Girard, Gabriel Delhaye, et al.. Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM): local probe of electronic properties at buried interfaces. 3rd Molecular Materials Meeting (International Conference), Jan 2013, Singapour, Singapore. ⟨hal-00880013⟩
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