Caractérisation de matériaux électrooptiques - l'unam - université nantes angers le mans Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

Caractérisation de matériaux électrooptiques

Résumé

Le problème posé est la caractérisation d'un matériau disponible en très petite quantité. Nous utilisons les propriétés d'une cavité électromagnétique. Nous mesurons la fréquence de résonance de cette structure en présence et en absence de l'échantillon dont nous cherchons la constante diélectrique.
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-00935106 , version 1 (21-02-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00935106 , version 1

Citer

Arnaud Gardelein, Tchanguiz Razban, Eric Tanguy. Caractérisation de matériaux électrooptiques. Journées Nationales Micro-ondes, May 2003, Lille, France. pp.1. ⟨hal-00935106⟩
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